Elektronik- und Halbleitermodulprüfung E-LIT
Modularer automatisierter Prüfstand
Analyse von Elektronik- und Halbleiterbauelementen
Modularer Messplatz für Online Lock-In-Messungen
Erkennung von thermischen Auffälligkeiten im mK- und μK-Bereich
Lokalisierung von Defekten in mehrlagigen Leiterplatten und Multi-Chip-Modulen
Nutzung von Thermografiesystemen mit gekühlten und ungekühlten Detektoren
Bediensoftware IRBIS® 3 active mit umfangreichen Analysemöglichkeiten
Lock-In Testmessung in Echtzeit mit E-LIT von InfraTec
E-LIT – Lock-In Thermografie für die Elektronik ist ein automatisiertes Prüfsystem innerhalb der zerstörungsfreien Prüfung. Es erlaubt eine berührungslose Fehlerinspektion an Halbleitermaterialien, elektronischen Bauteilen und elektronischen Schaltungen. Ungleichmäßige Temperaturverteilungen und lokale Energieverluste können mittels des speziellen Lock-In-Verfahrens und einer leistungsfähigen Thermografiekamera in kürzesten Prüfzeiten detektiert werden.
Die elektrischen Anregungseinheiten werden aus dem System parametriert und direkt synchron angesteuert. Sogar Fehler, die lediglich mK- oder μK-Abweichungen hervorrufen, können detektiert werden.
Kleinste Defekte, wie Punkt- und Linienkurzschlüsse, Oxidations-, Transistor- und Diodenfehler auf einer Leiterplattenoberfläche sowie in Schaltkreisen können exakt zweidimensional erkannt und dargestellt werden. Durch eine Veränderung der Lock-In-Frequenz lassen sich Fehler in Stacked-Die-Packages oder Multi-Chip-Modulen sogar räumlich zuordnen.
Die leistungsstarke Lock-in-Thermografie-Software verwendet Algorithmen und Routinen aus den neuesten wissenschaftlichen Veröffentlichungen.
E-LIT nutzt zur Auflösung kleinster geometrischer Strukturen Hochleistungs-Mikroskopobjektive und SIL-Linsen. Mittels hochauflösender Detektoren bis zu (1.920x1.536) IR-Pixel können große Messflächen charakterisiert werden.
Vorteile des modularen Prüfstandes
Messung mit einem Messplatz: von der ganzen Platine bis ins kleinste Detail
Kundenspezifischer modularer Messplatz, z. B. mit X-Y Tisch und Z-Achse manuell oder motorisch einstellbar, zur Positionierung und individuellen Einstellung der Arbeitsabstände, abhängig von der Messobjektgröße des Prüflings
Flexibilität durch variable Komponenten, z. B. verschiedene Optiken, Aufnahmeeinrichtungen für den Prüfling oder Kontaktierungsmöglichkeiten
Echtzeit Lock-In-Messung mit höchster Empfindlichkeit
Vollständige und präzise mikroskopische Analyse
Geometrische Auflösung bis zu 1,3 μm mit Mikroskopobjektiven
Thermische Auflösung im Mikrokelvinbereich
High-Voltage Prüfplatz mit zwangsläufigem Berührungsschutz und Betriebszustandsmeldeleuchte
Einbindung von High-voltage Source-Meter-Unit bis 3kV
Intigrierter IV-curve tracer für i-v characterization
Mehrschichten-Analyse
Automatische Abrasterung größerer Proben über Präzisionsmechanik
Aufnahmen von Thermografiebildern mit verschiedenen Objektiven
100 mm Teleobjektiv
Mikroskopobjektiv 3×
Mikroskopobjektiv 1×
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Nicht selten sind Aufgabenstellungen mit besonderen Anforderungen verknüpft. Besprechen Sie gemeinsam mit unseren Spezialisten Ihre konkrete Anwendung, erhalten Sie weiterführende technische Informationen oder lernen Sie unsere Zusatzdienstleistungen kennen.
Thermografiesoftware IRBIS® 3 active
Bediensoftware mit umfangreichen Analysemöglichkeiten unter Laborbedingungen
Optionale Zusatzsoftware zur parametergesteuerten automatischen Fehlerklassifizierung
Einfache Handhabung mittles intuitivem Benutzerinterface
Darstellung verschiedener Zustände des Messobjektes in Echtzeit
Vielfältige Speichermöglichkeiten für Bilddaten und Messergebnisse
Darstellung der komplexen Intensitätsinformation als 0°-Bild, 90°-Bild oder mit frei wählbarem Phasenwinkel
Bildüberlagerung von Live- und Amplitudenbild
Optional: IV-Messung, Undersampling, Driftkompensation, Verlustleistungsmessung, Nutzer- und Rezeptverwaltung, verschiedene Schnittstellen zu anderen Systemen
Produktflyer
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